Physiker, Entwicklungsingenieur, Prozessingenieur, Modellierung & Simulation, Dünnschichttechnologie

Ich bin promovierter Physiker mit 20 Jahren Berufserfahrung in der Dünnschichttechnologie, insbesondere in Beschichtungs- und Trockenätzprozessen. Meine bisherigen Schwerpunkte liegen in der Produktentwicklung, im Sondermaschinenbau und in der Prozessoptimierung im Umfeld der Optik- und Halbleiterindustrie.

Darüber hinaus verfüge ich über langjährige Erfahrung in der mathematisch-physikalischen Modellierung, Simulation und wissenschaftlichen Softwareentwicklung. Im Laufe meiner bisherigen Tätigkeit habe ich zahlreiche Anwendungen und Tools in Delphi und MATLAB entwickelt, die von Forschungsinstituten und Industriekunden weltweit eingesetzt werden – zur Planung von Prozessen, Berechnung von Maschinenrezepten, Auswertung von Prozessen und Analyse von Prozessfehlern.

Durch meine Start-up-, KMU- und Konzern-Erfahrung kenne ich sowohl die agile, ressourcenbewusste Arbeitsweise kleiner Teams als auch die strukturierten Abläufe globaler Hightech-Unternehmen. Zusätzlich bringe ich Expertise in der Gründungsvorbereitung, in Spin-off-Projekten sowie im Interim Management mit – an der Schnittstelle von Forschung, Technik und Geschäftsentwicklung.

Kernkompetenzen:

· Konzepterstellung

· Produktentwicklung / Anlagen-Engineering / Sondermaschinenbau (Beschichtungsanlagen, Messanlagen, kleine und große Vakuumkammern, mechatronische Baugruppen)

· Prozessoptimierung (Beschichtungsprozesse und Trockenätzprozesse im Umfeld der Optik- und Halbleiterindustrie)

· High-End-Beschichtungsprozesse für Optik- und Halbleiterindustrie

· Schichtentwicklung

· Mathematisch-physikalische Modellierung und Simulation

· Digital-Twin-Entwicklung

· Softwareentwicklung / Delphi / Matlab

· F&E-Leadership

· Businessplanung und Businessplanerstellung inkl. Finanzteil

Erfahrung im Bereich Messtechnik:

· Spektralphotometrie T und R in-situ (in Beschichtungsprozessen) und ex-situ

· integrale und winkelaufgelöste Streulichtverfahren zur Oberflächen- und Defektanalyse

· Cavity-Ring-Down zur Charakterisierung dünner Schichten

· Rasterkraftmikroskopie

· Lichtmikroskopie